11月14日举办了电压检测器(复位IC)网络研讨会。现将研讨会答疑环节中各位提出的问题及解答内容予以公开。

电压检测器(复位IC)网络研讨会问答内容公开

Q1、当VIN端子与检测端子共用同一电压检测器时，在VIN端子插入电阻需注意哪些事项?

A1、在VIN端口添加电阻主要有两个目的：

1、作为RC滤波器，避免检测到尖峰等陡峭的电压变化。

2、通过电压分压实现高电压检测。

无论哪种情况，IC内部的工作电流和穿通电流都会增加，且外部电阻导致的VIN电压波动可能引发检测/解除动作反复进行的不稳定现象。

若数据手册中对VIN电阻的使用注意事项或数值有规定，请严格遵守。

对于 CMOS 输出，由于贯通电流较大、VIN 电压波动更明显，原则上不推荐使用。

对于 N 沟道开漏(Nch Open-Drain)输出，电阻值的选择也需十分谨慎。

通过在R旁并联C可防止误动作，但 R 的取值不宜过大。

因此，在 VIN 与检测端子共用的电压检测器中，为实现高电压检测而进行的电阻分压并不推荐。

虽然3引脚型(共用VIN与检测端)电压检测器结构简单，但建议优先考虑带检测端子的4引脚类型。

检测端可轻松配置RC滤波器或电阻分压，应用范围更广泛。

在小批量生产的工业设备中，检测电压为1V的独立检测端子型产品常被选用。利用电阻分压可应对多种电压，库存管理也更便利。

本公司产品中，外接解除延时的XC6118、超低功耗XC6135、高功能XC6132/XC6133/XC6134被广泛采用。

Q2、几乎没有迟滞(Hysteresis)的产品主要用于哪些场合?

A2、常见应用场景主要有两种：

1、注重解除电压精度的场合

例如电压上升检测、储能元件充电完成检测等。

使用一般方法“检测电压+约5%迟滞=解除电压”时，由于检测电压和迟滞值各自存在偏差，会导致解除电压精度下降。2、由 MCU处理检测/解除信号的场合

通过MCU程序控制检测/解除循环，可在相同电压下实现检测/解除。

当同时需要检测/解除电压精度与滞后特性时，外调滞后型更适用。

本公司产品示例：XC6132/XC6134，以及对检测/解除双通道进行高精度修整的XC6138。

Q3、 关于 贯 通 电 流， CMOS 输 出 类 型 较 多，而 N 沟道开漏 类 ( Nch Open-Drain ) 类 型 较 少 吗 ?

A3、是的，确实如此。

CMOS输出类型在输出级设有大型CMOS反相器，在高/低电平切换时可能产生瞬时mA至数十mA的穿通电流。

N沟道开漏(Nch Open-Drain)输出类型因不存在大型CMOS反相器，且前级反相器较小，因此穿通电流可大幅降低。

Q4、对于可外部设置延迟时间的复位IC，如何减小包括延迟时间温度特性在内的偏差?

A4、遗憾的是，由于延迟时间由内部元件决定，无法减小偏差。请选择偏差较小的产品。

本公司推荐产品如下：

延迟时间内部固定型：XC6127(常温下偏差约±15%)

延迟时间外部可调型：XC6132/XC6133/XC6134

(可通过外接Cd电容调节，含内部电阻Rp/Rn温度特性偏差约±15%)

请同时参照数据手册中的计算公式。

Q5、设置解除延迟时间时，Cd电容是否有最大值限制?

A5、没有严格限制，但需注意以下事项：

1、高容量C的漏电流可能导致IC充电速度跟不上，造成无法充电的情况。尤其在高温环境下需重点确认。

2、当大容量C放电(解除延迟)时，可能产生大峰值电流通过内部阻断电路流向GND;或在IC电源骤降时，Cd端子残留高于VIN(VDD)的电压，导致电流通过内部寄生二极管。为此，部分设计要求在Cd端子与大容量C之间插入电阻，请务必充分确认。

Q6、若不使用可设置延迟的复位IC的Cd端子该如何处理?

A6、保持开路状态即可。数据手册中已明确规定开路状态下的延迟时间。

※参考资料

我们准备了可直观了解电压检测器(复位IC)种类、各项功能及使用示例的资料。

• 民用/工业设备用复位IC 产品概要

关于特瑞仕半导体株式会社

特瑞仕半导体株式会社(总公司：东京、东证Prime: 6616)从 1995年设立以来，作为日本国内唯一的模拟电源IC的专业厂家，以「Powerfully Small」为产品制造追求的目标，提供增加客户产品的附加值的世界最小级的高效率模拟电源IC以及可以加快客户产品开发的电源设计方案。

特瑞仕的产品以日本国内为首，通过海外6家分公司7处销售点销往世界各地，被广泛用于工业机器，汽车用品，通信，电脑产品，穿戴电子等市场。