国产高精度24位ADC芯片测试:芯海CS1237 vs 聚芯微 vs TI ADS1256性能实测

Y
YUXINJING 2026-07-30 12:01
117 2
【问题与背景描述】
近期在推进一款工程方案设计时遇到关于 国产高精度24位ADC芯片测试:芯海CS1237 vs 聚芯微 vs TI ADS1256性能实测 的技术难点。
在样机测试与调试过程中,我们实测抓取了关键节点的波形,并对比了芯片官方手册(Datasheet)中给出的参考典型应用电路。
目前有几个疑问想向论坛的前辈与原厂技术支持请教:
1. 在实际多层板布线和量产工况下,此处的寄生参数与温升影响通常如何做工程降额计算?
2. 针对高可靠性与长期稳定性要求,是否有经过实战验证的电路保护或参数调优建议?
欢迎有相关调试经验的同行共同交流探讨,谢谢!

全部回复 2

硬
硬件老曹 2026-07-31 23:02
#2
请问楼主在画PCB时,对于敏感模拟地(AGND)和大功率数字开关地(PGND),是推荐单点0欧电阻连接,还是直接铺设整块统一低阻抗地平面?我们团队内部一直在争论这个问题。
芯
芯片验证小严 2026-08-01 21:13
#3
这个必须点赞!分析得很透彻。我们在上个月的项目里也遇到了几乎一模一样的问题,最后排查出来就是地平面回流路径被高速信号走线割裂了,补了两个缝合地电容后眼图立马张开了。
发表回复
帖子信息
板块 芯片讨论
发帖时间2026-07-30
浏览次数117
回复次数2