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测试测量技术
芯片测试要更准,精密放大器该怎么选?

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简介 随着半导体产业的不断发展,半导体测试设备发挥着重要作用。由于半导体和集成电路的不断发展以及对电子产品的越发严刻的要求,测试设备必须不断改进。德州仪器 (TI) 提供了各种各样的精密放大器,它们能为测试集成电路提供了更准确的结果。 电压强励(也称为被测器件 (DUT) 或负载激励)是一个重要方面。在半导体器件上施加某些电压条件并观察半导体的反应对于确保器件正确响应很重要。为提供理想的最终结果,

三步就好,使用万用表来判断MOS管的好坏

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SRR上根本没有电场分布,电场分布在中间那一段导线上,于是我将两个SRR删除,发现S11曲线也没有发生变化,所以谐振全部是由中间那一条线产生的,那之前我们所仿真的都是错误的。心态爆炸 小刚找了一篇相关论文,主要向大家解读一下这篇论文。 论文来自IEEE—— <美>电器和电子工程师学会 这篇论文提出了一种微波频率下电小样品复介电常数的非接触测量方法。 导言 介电常数是描述电磁

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点击下方关注公众号:电源漫谈 关注,分享,点赞,赞赏,在看,支持优质内容! Bode图的“投影”本质 Bode图由幅频特性和相频特性两张图组成: 幅频特性:将  |G(jomega)|  取对数(单位为dB,即  20lg|G(jomega)| ),以  lgomega  为横轴绘制,反映幅值随频率的变化。 相频特性:直接以  angle G(jomega) (单位为度)为纵轴,以  lg

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