微电子所在面向视觉AI芯片的单片三维异质集成技术领域取得进展
后摩尔时代,传统晶体管“几何微缩”进程持续趋缓,已成为制约高性能AI芯片实现经济性与规模化发展的核心瓶颈。以“韬(τ)定律”为代表的集成电路发展新范式应运而生,其通过3D堆叠多功能芯片,实现系统级延迟降低与等效集成密度的大幅提升。在边缘端,信息处理同样面临时延
后摩尔时代,传统晶体管“几何微缩”进程持续趋缓,已成为制约高性能AI芯片实现经济性与规模化发展的核心瓶颈。以“韬(τ)定律”为代表的集成电路发展新范式应运而生,其通过3D堆叠多功能芯片,实现系统级延迟降低与等效集成密度的大幅提升。在边缘端,信息处理同样面临时延
人工智能与高性能计算应用的快速发展,对高容量、高带宽存储的需求急剧增长。高速SRAM受其6T结构限制,难以实现高容量;片外DRAM因访问延迟较高,无法充分满足高带宽需求。在此背景下,基于IGZO的2T0C架构可后道集成于逻辑芯片之上,被视为兼顾高容量与高带宽的
面向后摩尔时代新型半导体器件与先进集成技术的发展需求,设计工艺协同优化(DTCO)正推动着材料、器件、工艺与电路系统的协同设计。作为连接器件物理与电路设计的关键桥梁,紧凑模型直接关系到新型器件进入电路设计流程、支撑系统优化与应用探索的效率。随着新材料、新结构器
5月16日,微电子所“赴科学之约,赋未来之翼”公众科学日活动在庄严的升国旗仪式中开启全天日程。开幕式在研究所八层多功能厅举行,来自南开大学、中关村中学、民族小学等大中小学、科技爱好者及市民朋友等千余人走进集成电路科研殿堂,近距离感受芯片科技独特魅力。 “揭秘芯
随着物联网设备的快速普及与海量部署,其数量呈现爆发式增长。但这些设备往往部署在物理不可控的环境中,极易遭受各种硬件级攻击,如电源噪声注入、电磁干扰、激光fault注入等,传统的软件安全机制难以有效抵御。硬件安全芯片,尤其是作为密码系统“熵源”核心的真随机数发生
随着DRAM制程不断微缩,有源区鳍形结构的刻蚀形貌控制成为提升良率的关键瓶颈。产业界普遍观察到wiggling AA效应,即鳍状结构出现非均匀侧壁与弯曲畸变,严重降低电容效率与器件可靠性。然而,其物理根源长期不明,缺乏系统的表征与机理模型,导致刻蚀工艺难以精准
中国共产党的优秀党员,我国杰出的微电子科学家,中国科学院院士,中国科学院微电子研究所研究员、原中国科学院微电子中心主任,第九届、第十届全国人民代表大会常务委员会委员,中国科学院技术科学部第八届常务委员会委员、第九届常务委员会副主任,中国科学院信息技术科学部第十
中国科学院微电子研究所(以下简称“微电子所”)成立于1958年,是我国微电子科学技术与集成电路领域的重要研发机构,是集成电路制造技术全国重点实验室的依托单位。在半导体器件与集成电路制造、集成电路设计与应用、集成电路装备等领域展开科研工作,设有集成电路先导工艺研
4月10日上午,中国科学院副秘书长,上海分院分党组书记、院长王华到中国科学院微电子研究所调研指导工作,微电子所所长、党委书记戴博伟,副所长曹立强、李泠陪同调研。 王华实地考察了集成电路先导工艺线、先进封装工艺线,参观了创新成果展,详细了解了微电子所在集成电路关