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# 刻蚀工艺

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芯片制造前沿技术:原子层刻蚀(ALE)

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本文将介绍芯片制造的刻蚀工艺中的原子层蚀刻(Atomic Layer Etching, ALE)。 ALE工艺概述 随着半导体技术的发展,先进芯片的关键尺寸不断缩小,甚至要求具有复杂的三维结构,如FinFET和3D NAND闪存。这些技术的发展对刻蚀工艺提出了极高的要求,特别是在选择比和精度方面。纳米级器件结构对工艺尺寸误差的要求非常严格,一般约为其自身尺寸的10%。例如,宽度为5纳米(nm)的晶

微电子所在DRAM刻蚀工艺三维仿真方向取得重要进展

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随着DRAM制程不断微缩,有源区鳍形结构的刻蚀形貌控制成为提升良率的关键瓶颈。产业界普遍观察到wiggling AA效应,即鳍状结构出现非均匀侧壁与弯曲畸变,严重降低电容效率与器件可靠性。然而,其物理根源长期不明,缺乏系统的表征与机理模型,导致刻蚀工艺难以精准调控。 针对上述挑战,中国科学院微电子研究所EDA中心陈睿研究员与先导中心李俊杰正高级工程师、闻静高级工程师、维也纳工业大学Lado Fil