晶振倍频干扰解决方法：优化PCB布局与布线

2026-03-08 15:00 测试测量 81 次阅读

摘要：本文讨论了晶振倍频干扰问题及其解决方法，主要从优化PCB布局与布线等方面提出解决方案，以减少高次谐波辐射。

晶振倍频干扰（即高次谐波辐射）是电磁兼容（EMC）设计中非常棘手的问题，通常表现为在25MHz基频的5次、7次谐波处（如125MHz, 175MHz等）出现辐射超标。这通常是因为晶振输出的方波信号含有丰富的谐波成分，加上PCB布局不当，使其变成了高效的辐射天线。

建议从源头抑制、路径切断到电路优化等以下几个方面解决：

一、优化PCB布局与布线（成本最低，最常用）

这是解决辐射问题的第一步，很多时候仅仅通过改板就能解决大部分问题。

测试测量 X射线在封装中的应用

X射线照相是非破坏性检测封装缺陷的关键手段，可精准识别密封工艺中的空洞、引线异常及多余物等内部问题。基于密度与厚度差异成像，结合标准中密封宽度≥75%设计要求等判据，保障高可靠性器件的封装质量。 X射线在封装中的应用 X射线照相是采用非破坏性方法检测封装内缺陷的有效手段，尤其适用于检测密封工艺引发的缺陷及内部缺陷，如多余物、内引线连接错误、芯片附着材料中的空洞，以及玻璃密封时玻璃内部的空洞等。通过

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测试测量高分辨透射电镜（HRTEM）技术解读

HRTEM 利用电子波动性实现原子级成像，是材料科学核心表征工具。基于相位衬度与衬度传递函数，通过球差与散焦平衡、包络阻尼及样品制备，在界面、准晶、单原子成像等领域揭示材料微观结构。高分辨透射电子显微镜，简称 HRTEM，是材料科学和凝聚态物理研究里最核心的表征工具之一。它的成像原理基于电子的波动特性，和我们日常用的光学显微镜完全不同，能拍到原子级别的细节，让我们直接看清材料里原子的排列方式。

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测试测量扫描电镜菊池衍射几何（EBSD，RKD，TKD）的比较

直接电子探测器的微型化催生了EBSD、RKD、同轴TKD与离轴TKD四种菊池衍射几何。它们分别适用于块体、原位、纳米等不同场景。研究通过衍射球重建统一比较，发现TKD在高阶特征分辨率上显著优于反射模式，而能量过滤与畸变控制是提升精度的关键。近年来，紧凑型直接电子探测器的出现，为菊池衍射技术带来了革命性的发展机遇。探测器体积的大幅缩小，让研究人员可以在扫描电镜的腔室内灵活布置探测器位置，由此发展出

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测试测量电子衍射束的动力学理论（一）

本文将介绍电子衍射束的动力学理论，主要介绍衍射本质、消光距离等物理概念以及衍射束强度公式。透射电镜（TEM）能让我们看到晶体里原子级别的细节，而图像里的明暗变化，本质上都来自高能电子束和晶体原子的相互作用。当电子束穿过晶体时，只要原子面的角度刚好满足布拉格条件，就会产生一束衍射束。这束衍射束不会直接跑出晶体，它在传播过程中还会被其他原子面再次散射，和原本没被散射的直接束来回交换能量，这个反复散

中国科学院半导体研究所 722 2026-05-20 透射电镜(TEM) 电子衍射动力学理论

测试测量电子衍射束的动力学理论（二）

本文将继续介绍电子衍射束的动力学理论，主要介绍柱近似与图像计算与近似范围。柱近似与图像计算有了衍射强度的计算公式，我们就可以计算实际的 TEM 图像了。但这里还有一个问题：严格来说，晶体下表面某一个点 P 的衍射强度，并不是只来自它正上方的那一条直线上的原子，而是来自它上方一个锥形区域里所有原子的散射。这个锥形的半角大约是两倍的布拉格角2θB，这是菲涅尔衍射的基本规律。如果我们要严格计算这个锥

中国科学院半导体研究所 672 2026-05-21 消光距离电子衍射束动力学理论

测试测量断层X射线粒子追踪测速技术

流场测量是流体力学研究的核心基础，本文将介绍断层X射线粒子追踪测速技术。流场测量是流体力学研究的核心基础。传统的粒子图像测速和粒子追踪测速依靠可见光成像，一旦遇到不透明容器、多孔材料或者存在大量折射界面的多相流系统，就会完全失效。长期以来，研究者只能通过宏观参数间接推断内部流动规律，或申请昂贵的同步辐射机时开展 X 射线成像实验。技术原理与实验实现断层 X 射线成像的核心优势是强大的穿透能力

中国科学院半导体研究所 657 2026-05-22 断层X射线成像粒子追踪测速