标签专题 · 共 1 篇文章

# 栅极开关不稳定性

关于「栅极开关不稳定性」的技术文章、设计资料与工程师讨论,持续更新。

1
篇文章
4
人关注
86
次浏览
深度解析:为何 SiC MOSFET 必须构建专属可靠性验证方法?

深度解析:为何 SiC MOSFET 必须构建专属可靠性验证方法?

在电力电子领域,SiC MOSFET 正凭借高频、高效、高温的显著优势在新能源汽车、光伏储能、工业电源等核心场景加速渗透。SiC MOSFET能复用硅基器件(如垂直型MOSFET或IGBT)的许多基本的器件设计概念,另外用于验证Si MOSFET/IGBT长期稳定性的许多方法可以直接用到SiC MOSFET上。但更深入的分析表明,基于SiC的MOSFET还需要进行一些不同于Si器件的额外可靠性试验