芯片测试要更准,精密放大器该怎么选?
简介 随着半导体产业的不断发展,半导体测试设备发挥着重要作用。由于半导体和集成电路的不断发展以及对电子产品的越发严刻的要求,测试设备必须不断改进。德州仪器 (TI) 提供了各种各样的精密放大器,它们能为测试集成电路提供了更准确的结果。 电压强励(也称为被测器件 (DUT) 或负载激励)是一个重要方面。在半导体器件上施加某些电压条件并观察半导体的反应对于确保器件正确响应很重要。为提供理想的最终结果,
关于「德州仪器」的技术文章、设计资料与工程师讨论,持续更新。
简介 随着半导体产业的不断发展,半导体测试设备发挥着重要作用。由于半导体和集成电路的不断发展以及对电子产品的越发严刻的要求,测试设备必须不断改进。德州仪器 (TI) 提供了各种各样的精密放大器,它们能为测试集成电路提供了更准确的结果。 电压强励(也称为被测器件 (DUT) 或负载激励)是一个重要方面。在半导体器件上施加某些电压条件并观察半导体的反应对于确保器件正确响应很重要。为提供理想的最终结果,
测试仪行业面临的一个挑战是,如何在不显著增加测试仪时间、尺寸或成本的情况下,满足对大量测试通道的需求。尽管半导体测试仪(也称为自动测试器件(ATE))种类繁多,但在大多数测试仪都包含三种主要卡:电压或电流测量卡(V/I 卡)、引脚电子卡(PE 卡)和器件电源卡(DPS 卡)。本篇重点介绍 ATE 系统中这三种卡的架构和功能。 电压或电流测量卡功能 图 1. 电压或电流 (V/I) 测量卡方框图