通俗理解芯片测试相关常见术语
本文介绍了芯片测试相关常见术语。 你可以把芯片测试理解成：芯片出厂前的“体检 + 考试 + 分班”——先看它能不能正常工作，再看它能跑多快、耐不耐热、耗不耗电，最后决定它是高端版、普通版，还是不合格品。 一、芯片测试基础概念 1.芯片测试 Chip Testing 检查芯片是否能正常工作，像给芯片做体检。 2.ATE 自动测试设备 专门测试芯片的大型设备，像芯片行业的“高考考场 + 体检仪”。 3
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ATE 测量卡怎么选？一文理清架构与设计取舍
测试仪行业面临的一个挑战是，如何在不显著增加测试仪时间、尺寸或成本的情况下，满足对大量测试通道的需求。尽管半导体测试仪（也称为自动测试器件(ATE)）种类繁多，但在大多数测试仪都包含三种主要卡：电压或电流测量卡（V/I 卡）、引脚电子卡（PE 卡）和器件电源卡（DPS 卡）。本篇重点介绍 ATE 系统中这三种卡的架构和功能。 电压或电流测量卡功能 图 1. 电压或电流 (V/I) 测量卡方框图