标签专题 · 共 23 篇文章

# TI

关于「TI」的技术文章、设计资料与工程师讨论,持续更新。

23
篇文章
70
人关注
1,120
次浏览
ATE 测量卡怎么选?一文理清架构与设计取舍

ATE 测量卡怎么选?一文理清架构与设计取舍

测试仪行业面临的一个挑战是,如何在不显著增加测试仪时间、尺寸或成本的情况下,满足对大量测试通道的需求。尽管半导体测试仪(也称为自动测试器件(ATE))种类繁多,但在大多数测试仪都包含三种主要卡:电压或电流测量卡(V/I 卡)、引脚电子卡(PE 卡)和器件电源卡(DPS 卡)。本篇重点介绍 ATE 系统中这三种卡的架构和功能。 电压或电流测量卡功能 图 1. 电压或电流 (V/I) 测量卡方框图

桶形插孔还能用多久?USB‑C PD 正在重塑电源接口

桶形插孔还能用多久?USB‑C PD 正在重塑电源接口

在过去数年里,支持电力输送 (PD) 的 USB Type-C® 标准已在各种电子产品中得到广泛应用。这一普遍应用得益于以下优势:统一端口(减少电子废弃物)、便捷的可逆连接器以及大功率能力等。 如 图 1 所示,最新版本的 USB PD 3.1 将 USB 的功率能力提升至 240W,相较之前 USB PD 3.0 规范的 100W 可用功率增加一倍以上。这使得现在可以通过 USB 为各种全新应用

模拟芯视界 | 分立式与集成式差分放大器对比

模拟芯视界 | 分立式与集成式差分放大器对比

引言 利用运算放大器(运放)和电阻器网络,可以构建多种实用电路,差分放大器 (DA) 便是其中之一。借助 DA,可以测量两个信号之间的差值,这对于太阳能电池板、移动电源和其他 DC/DC 模块等系统中的电流和电压检测非常有用。此外,许多 DA 可以施加增益,向信号添加基准电压,以及抑制输入信号产生的共模噪声。 DA 主要有两种类型:分立式(使用外部电阻器)和集成式(使用单片或片上电阻器)。本文将通