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# 高可靠封装

关于「高可靠封装」的技术文章、设计资料与工程师讨论,持续更新。

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封装工艺及检验

封装工艺及检验

本文介绍了高可靠封装和检验。 高可靠封装 高可靠集成电路封装主要包括划片、粘片、键合和密封四个工序,如图所示。 划片是封装的第一步。它把整张晶圆分成多个独立芯片。常用方法有机械切割和激光划片。 粘片是固定芯片的过程。通过粘接、焊接或倒装焊等方式,把芯片安装到管壳或基板指定位置。 键合主要完成芯片与外部电路之间的连接。常用金丝、铝丝等材料,通过引线键合实现电连接。 密封是封装的最后一步。通过烧结

高可靠封装发展

高可靠封装发展

本文介绍了高可靠封装发展。 概述 封装的发展经历着几个不同的阶段。最初,是封装形式的演变(见图1)。随着集成电路规模的增大,封装的引脚数量激增,在追求高密度、多引脚的过程中,衍生出了很多新的封装形式和更小的引脚间距。在这个阶段,封装外壳仍然保持着芯片机械支撑、环境保护、引出信号线和作为芯片散热通路的基本功能。在一个外壳内一般只封装一颗集成电路芯片。在产品迭代过程中,新的封装形式和更小的引脚间距使得