软基材上的引线键合技术
本文主要讲述软基材上的引线键合技术。 传统的厚膜混合电路使用陶瓷基板,键合焊盘直接在陶瓷基材上涂覆一层Au或者Ag(合金)厚膜层。与陶瓷封装上的键合相比,这不会引入更多特定问题。因此,采用最佳的冶金系统和键合程序,可以获得高良率(≤50ppm缺陷)。然而,其他塑料基材(PCB、BGA和SIP等)可能会引入重大的键合问题,这些基材是由常见的玻璃纤维或其他填料层压形成的环氧类聚合物,在其玻璃化转变温度
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本文主要讲述软基材上的引线键合技术。 传统的厚膜混合电路使用陶瓷基板,键合焊盘直接在陶瓷基材上涂覆一层Au或者Ag(合金)厚膜层。与陶瓷封装上的键合相比,这不会引入更多特定问题。因此,采用最佳的冶金系统和键合程序,可以获得高良率(≤50ppm缺陷)。然而,其他塑料基材(PCB、BGA和SIP等)可能会引入重大的键合问题,这些基材是由常见的玻璃纤维或其他填料层压形成的环氧类聚合物,在其玻璃化转变温度
本文介绍了IC芯片中聚合物基板的键合效果优化。 研究发现,在IC芯片上的有源区内进行热超声键合的最佳聚酰亚胺具有最高的弹性模量E,弹性模量即应力除以应变且需低于弹性极限。这一材料性能与聚合物的刚性相关,因此键合过程中材料形成的凹杯或压痕也与弹性模量有关。对于各向异性材料,压缩模量能更好地反映柔软性,但拉伸模量通常是唯一可测量的模量特性。键合过程中,无支撑的焊盘和聚合物的总形变见图1,这种形变会吸收