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物穷其理 宏微交替
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光与电的转换逻辑

光与电的转换逻辑

处理电信号的半导体微芯片特点是输入为电信号、输出也为电信号。光子器件的核心是光子,其主要特征为输入是电信号(能量)、输出是光信号(辐射),或输入是光信号、输出是电信号。 光子器件可分为三类:(i)将电能转换为光辐射;(ii)通过电子技术探测光信号;(iii)将

平行缝焊焊接质量影响因素(二)

平行缝焊焊接质量影响因素(二)

本文介绍了平行缝焊焊接质量影响因素。 焊接速度与焊接热量 现阶段电子设备逐步向轻量化、微型化、多功能化方向迭代,市场对微小型一体化封装管壳,尤其是表面安装型(SM)封装管壳的需求持续攀升。实际生产加工中发现,微小型管壳经平行缝焊加工后,瓷体易出现裂纹缺陷,直接

PE和EE为什么经常互相甩锅?

PE和EE为什么经常互相甩锅?

在芯片厂里,PE和EE互相甩锅,几乎是制造现场最有生命力的传统项目。 PE,也就是Process Engineer,工艺工程师。EE,也就是Equipment Engineer,设备工程师。 一个管工艺结果,一个管机台状态;一个盯参数、良率、recipe、工

玻璃基板在MEMS中扮演哪些角色

玻璃基板在MEMS中扮演哪些角色

本文介绍了玻璃基板在MEMS的四种角色。 最近Corning、Intel、三星在先进封装玻璃基板和TGV上砸的弹药不少,行业文章一半以上在谈"玻璃替代有机载板做 2.5D/3D"。但往前翻一层,MEMS 才是玻璃基板老用户——硅-玻璃阳极键合这条工艺线跑了三十

28nm工艺里的“两套班子”:Core器件和IO器件为何长得不一样?

28nm工艺里的“两套班子”:Core器件和IO器件为何长得不一样?

本文介绍了Core器件和IO器件的结构区别与原因。 在28nm芯片上,工程师会同时制造两种PMOS晶体管:一种是Core器件,用于核心逻辑电路;另一种是IO器件,用于与外界通信的输入输出接口。它们虽然做在同一颗芯片上,但内部结构却有明显差异。 从图片可以清

WBBGA及其细分类型封装工艺介绍

WBBGA及其细分类型封装工艺介绍

本文主要介绍了WBBGA及其细分类型封装工艺介绍。 WBBGA封装工艺 引线键合球栅阵列(Wire Bonding Ball Grid Array,WBBGA)封装是一种高密度表面贴装封装技术,核心特征为器件引脚全部集中在封装体底部,圆柱状焊球以阵列形式均匀分

会聚束电子衍射(CBED)技术解读

会聚束电子衍射(CBED)技术解读

本文主要介绍了会聚束电子衍射(CBED)技术。 传统选区电子衍射(SAD)受物镜球差与选区光阑放置位置的双重限制,有效空间分辨率仅达亚微米级别,即便采用球差校正电镜也仅能提升至 100 纳米左右,无法满足纳米颗粒、位错核心等表征需求;同时薄样品、小晶粒会放宽布

柔性电子:让电路从“硬板”走向“可弯曲”的未来

柔性电子:让电路从“硬板”走向“可弯曲”的未来

本文介绍了柔性电子及其典型应用。 一、柔性电子 柔性电子或柔性电路是建立在柔性衬底之上的一类新型电子技术。与传统刚性电路相比,其核心特征在于将导电层、半导体层、介电层以及各类功能器件集成在可弯曲、可卷绕甚至可一定程度变形的基底材料上,例如聚对苯二甲酸乙二醇酯

芯片ATE测试介绍

芯片ATE测试介绍

本文主要介绍了芯片ATE测试。 在半导体芯片的生产制造流程中,ATE(Automatic Test Equipment)即自动测试设备扮演着不可或缺的关键角色。随着现代芯片集成度的不断提高与功能的日益复杂化,ATE凭借其高效的自动化测试能力,已成为确保产品质量

RTP如何快速冷却?

RTP如何快速冷却?

本文主要介绍了RTP如何快速冷却。 RTP的价值不只是快速升温,快速冷却同样关键。整个温度曲线必须尖锐,原因: 如果升温快但降温慢--》晶圆在高温停留时间仍然长--》掺杂原子继续扩散,热预算超标--》失去RTP控制热预算的意义 所以RTP要求升温和降温都快,

芯片先进封装的四种:CoWoS、CoPoS、Glass Core与CoWoP

芯片先进封装的四种:CoWoS、CoPoS、Glass Core与CoWoP

本文将介绍四种芯片先进封装。 在先进封装领域,如何把多颗芯片(比如计算芯片和存储芯片)高效地拼在一起,不同厂商给出了不同的答案。图片展示了四种主流方案,它们在材料、结构和成本上各有取舍。 CoWoS CoWoS是目前最成熟的方案,台积电的拳头技术。它把HBM高

Scanning Electron Microscopy(Train for advanced research)扫描电子显微镜介绍(二)

Scanning Electron Microscopy(Train for advanced research)扫描电子显微镜介绍(二)

本文将介绍扫描电子显微镜(SEM)。 电子显微镜在许多方面与光学显微镜类似。乍一看这令人惊讶,因为光学显微镜的简单技术与电子显微镜复杂的电子器件、真空设备、电压供应和电子光学系统之间形成了鲜明对比。两者都有一个照明源(灯泡与电子源)、一个聚光镜(玻璃与电磁镜)

封装载板设计

封装载板设计

本文主要介绍了封装载板设计。 概述 芯片封装载板是衔接芯片与外部系统的核心结构,其设计需兼顾电气性能、散热能力与机械可靠性,三者的协同优化效果直接决定整机系统的运行效率与稳定性。结合主流封装工艺与结构差异,封装载板设计可分为引线框架类封装设计与基板类封装设计

影响RTP冷却速率的因素

影响RTP冷却速率的因素

本文主要介绍了影响RTP冷却速率的因素。 一、热源关断因素 1. 灯的关断速度 冷却的起点是热源消失,灯关断越快,冷却启动越早。 2. 灯的余热辐射 灯关断后灯丝本身还有余温,会残留少量辐射,灯丝热容越小,余热影响越小。 二、辐射散热相关因素 3. 腔壁温

为什么AI芯片封装开始关注玻璃基板?

为什么AI芯片封装开始关注玻璃基板?

这几年,AI芯片越来越火,先进封装也越来越热。以前大家聊芯片,最关心的是几纳米制程、晶体管数量、算力有多强。但现在,一个新的问题开始变得重要: 芯片做出来之后,怎么把它们高效地连在一起? 这就是封装的问题。 在AI芯片时代,封装不再只是“给芯片套个外壳”,而

晶圆变“晶方”?AI封装火了,MEMS也能用吗?

晶圆变“晶方”?AI封装火了,MEMS也能用吗?

本文将介绍半导体行业方形硅片。 近期半导体行业方形硅片批量交付的消息刷屏,不少人疑惑,几十年通用的圆形晶圆为何突然出现方形款,它会不会全面替代圆片,在MEMS 领域又有落地空间? 晶圆和“晶方” 传统晶圆天生是圆形,硅棒经旋转提拉长成圆柱,切片自然呈圆形,全

Electrical Die Sorting工艺介绍

Electrical Die Sorting工艺介绍

EDS工艺 是在晶圆完成电路制造的FAB工序与最终封装工序之间进行的关键测试环节,也被称为晶圆测试或探针测试。其核心任务是通过电气特性检测,逐一判断晶圆上每个芯片是否达到所需的质量水平,筛选出合格与不合格产品,并对可修补的缺陷芯片进行修复,使其转为合格品。

芯片界的“背向革命”:让供电后撤,性能翻番

芯片界的“背向革命”:让供电后撤,性能翻番

本文将介绍芯片界的“背向革命”。 在芯片制造的微观世界里,晶体管像是数亿个微型开关,而连接它们的金属线就像城市里的立交桥。过去几十年,供电和信号传输都挤在芯片的“正面”(晶圆表面)。然而,随着晶体管尺寸逼近物理极限,正面的“交通拥堵”日益严重——布线拥挤、电阻

封装设计方法学演进

封装设计方法学演进

本文将介绍封装设计方法学演进。 芯片-封装-系统的联合设计模式已成为国内芯片设计领域的核心研究与应用重点。该模式通过芯片、封装、系统三大层级的跨维度协同优化,实现了芯片纳米级互连结构、封装毫米级物理架构与终端系统功能需求的深度融合,能够有效解决产品研发与应用中

Scanning Electron Microscopy扫描电子显微镜介绍(一)

Scanning Electron Microscopy扫描电子显微镜介绍(一)

本文将介绍扫描电子显微镜(SEM)。 SEM基础 扫描电子显微镜(SEM:Scanning Electron Microscope:)使用聚焦的电子束来创建样品的放大图像。电子束以规则的图案在样品表面进行扫描,从样品中射出的电子(二次电子)被用于创建图像。 本