断层X射线粒子追踪测速技术

来源:中国科学院半导体研究所 测试测量 18 次阅读
摘要:流场测量是流体力学研究的核心基础,本文将介绍断层X射线粒子追踪测速技术。 流场测量是流体力学研究的核心基础。传统的粒子图像测速和粒子追踪测速依靠可见光成像,一旦遇到不透明容器、多孔材料或者存在大量折射界面的多相流系统,就会完全失效。长期以来,研究者只能通过宏观参数间接推断内部流动规律,或申请昂贵的同步辐射机时开展 X 射线成像实验。 技术原理与实验实现 断层 X 射线成像的核心优势是强大的穿透能力

流场测量是流体力学研究的核心基础,本文将介绍断层X射线粒子追踪测速技术。

流场测量是流体力学研究的核心基础。传统的粒子图像测速和粒子追踪测速依靠可见光成像,一旦遇到不透明容器、多孔材料或者存在大量折射界面的多相流系统,就会完全失效。长期以来,研究者只能通过宏观参数间接推断内部流动规律,或申请昂贵的同步辐射机时开展 X 射线成像实验。

技术原理与实验实现

断层 X 射线成像的核心优势是强大的穿透能力。X 射线能轻松穿过可见光无法通过的金属、陶瓷、塑料等材料,而且在常用的能量范围内,它的折射率几乎等于 1,不会像可见光那样在不同介质界面发生复杂的折射和反射,从根本上避免了光学成像中的畸变问题。

X 射线穿过物质时会发生衰减,衰减程度与物质的密度成正比,这就是比尔 - 朗伯定律,它为区分流场中的示踪粒子和背景流体提供了天然的对比度机制。

实验装置整体示意图,展示 X 射线源、旋转台、泵系统、探测器及数据处理流程

实验使用TESCAN CoreTOM micro-CT 系统搭建了完整的实验平台。整套装置固定在 CT 的旋转台上,流体泵通过滑环与旋转台连接,保证样品在连续旋转过程中也能持续泵送流体。系统以每秒 120 度的角速度旋转,配合每秒 68 帧的高速硅平板探测器,完成一次 360 度全角度扫描只需要 3 秒,这个采集速度在当时的实验室 X 射线源中处于领先水平。

研究人员精心优化了成像几何参数:样品放在距离 X 射线源 15 毫米的位置,探测器放在距离样品 400 毫米处,最终重建出的三维图像每个体素的边长是 18 微米。

示踪粒子选用直径约 60 微米的银涂层空心玻璃微球,先通过专业筛分选出 53 到 75 微米的颗粒,再用浮选法去除密度过高或过低的异常粒子,保证粒径均匀且接近中性浮力。最终粒子与流体之间的信噪比达到 2.5,足够清晰地区分粒子和背景。简单来说,每个示踪粒子在三维图像中大约占据 3×3×3 个体素,通过计算质心可以实现亚微米级的定位精度,这个参数组合平衡了空间分辨率、采集速度和粒子跟踪的可靠性。

三维图像重建使用工业 CT 领域通用的 FDK 滤波反投影算法。每次全角度扫描采集 200 张二维投影图像,重建出一个 480×480×344 体素的三维体积。整个实验连续进行 200 次扫描,总时长约 11 分钟,中间包含了必要的平场和暗场校正步骤,用来消除探测器本身的噪声和不均匀性。

图像处理流程和传统的粒子追踪测速技术基本一致。首先用非局部均值滤波去除 CT 重建产生的噪声,让粒子边缘更清晰;然后用 Otsu 自动阈值法把粒子从背景中分割出来;对于粘连在一起的粒子团簇,使用分水岭算法进行三维分割,给每个粒子分配唯一的编号;最后提取每个粒子的质心坐标,通过匹配相邻时间步中距离最近的粒子,构建出完整的拉格朗日运动轨迹。

值得注意的是,即使因为运动模糊导致粒子看起来是椭圆形的,只要质心计算准确,跟踪精度就不会受到明显影响。

层流管道流的基准验证

泊肃叶流动是流体力学中最经典的理论解,也是验证任何测速技术可靠性的标准实验。实验在内径 6.35 毫米的碳纤维管中进行,使用 70% 甘油和 30% 水的混合液作为工作流体,流动雷诺数约为 0.0034,属于典型的蠕流状态,理论上管道横截面上的速度分布应该是完美的抛物线。

速度剖面对比图,展示 TXPTV (Tomographic X-ray  Particle Image Velocimetry ,PIV)测量结果与理论泊肃叶剖面的比较,以及不同密度偏差的修正曲线‍。

实验结果整体上很好地再现了理论预测的抛物线速度分布,证明这项技术确实能够获取定量的流场数据。不过数据也表现出一定的离散性,部分粒子的速度和理论值有明显偏差。深入分析发现,这个偏差主要来自示踪粒子的密度不均匀性。目前使用的银涂层空心玻璃微球,密度存在大约 3% 的波动,在每秒 10.5 微米的极低流速下,哪怕是微小的密度差异,都会产生显著的浮力沉降速度。

根据斯托克斯阻力公式计算,5% 的密度偏差就会让粒子产生每秒 5 微米的终端沉降速度,这个速度已经接近管道中心主流速度的一半。这说明对于低速测量来说,示踪粒子的密度匹配精度是最关键的限制因素。在当前的实验条件下,要把速度测量误差控制在 5% 以内,粒子和流体的密度偏差必须小于 1%,这为后续专用示踪粒子的研发指明了方向。

密度匹配带来的误差和流速密切相关。如果扫描速度能提高 20 倍,或者使用粘度更高的流体,同样的密度偏差造成的相对误差就会大大降低。这意味着这项技术在中高速流动或者高粘度流体中可以直接获得很好的测量结果,而低速测量则需要等待示踪粒子技术的进一步突破。

技术挑战与限制因素

作为一项新兴技术,断层 X 射线粒子追踪测速目前还面临三个核心挑战。第一个也是最关键的挑战,是如何同时满足示踪粒子的密度匹配和 X 射线对比度要求。理想的示踪粒子需要密度和流体完全一致,同时对 X 射线的吸收能力和流体有明显差异,还要粒径均匀、化学性质稳定,现有的商用粒子很难同时满足所有这些要求。这次实验使用的银涂层空心玻璃微球虽然有很好的 X 射线对比度,但密度均匀性只有 3% 左右,在低速流动中就成了主要的误差来源。

第二个挑战是运动伪影的控制。采集过程中有两种运动同时存在:一种是样品台的旋转运动,另一种是流体本身的流动。旋转运动导致粒子在不同投影角度下的运动方向不同,当粒子运动方向和探测器平面平行时,成像模糊最严重。

第三个挑战是扫描速度的限制。目前完成一次全角度扫描需要 3 秒,这意味着如果粒子在 3 秒内移动的距离超过粒子间距,就会出现跟踪错误,因此可测量的最高流速受到限制。这个限制主要来自实验室 X 射线源的亮度和探测器的帧频,是硬件层面的根本约束。

未来发展方向

这项技术的未来发展路径非常清晰。在硬件方面,更亮的实验室 X 射线源和更快的探测器是提升扫描速度的关键。液态金属靶等新型 X 射线源技术正在快速发展,有望在未来几年内将源亮度提高两个数量级;同时探测器的帧频也在不断提升,这些硬件进步将直接扩展可测量的流速范围。

在示踪粒子方面,开发密度更均匀、对比度更高的专用粒子是核心任务。需要把密度匹配精度从目前的 3% 提高到 1% 以内,同时保持足够的 X 射线吸收差异。研究人员正在探索核壳结构、复合材料等新型粒子设计,有望在未来几年取得突破。

在算法层面,稀疏角度和有限角度 CT 重建算法可以在不降低时间分辨率的情况下减少需要采集的投影数量,相当于提高了有效扫描速度。迭代重建算法比传统的滤波反投影算法更适合投影数量不足的情况,能够提供更准确的粒子定位精度。此外,还可以针对粒子追踪的特定需求,开发专门的重建算法,直接从投影数据中提取粒子的位置,而不需要先重建完整的三维体积,进一步提高处理速度。

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