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# 封装工艺
关于「封装工艺」的技术文章、设计资料与工程师讨论，持续更新。
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引线键合良率相关问题
本文主要介绍了引线键合良率相关问题。 封装相关的键合良率问题 相关研究已系统探讨了不同封装类型对键合良率的影响，以及键合良率与引线框架夹持状态的依赖关系。研究发现，硬质陶瓷封装的键合效果最佳，而小尺寸封装的键合良率相对较差，核心原因可能是小尺寸封装难以实现稳定有效的夹持。引线框架与封装夹持状态会影响键合良率，这是行业内长期公认的结论，夹持不良的封装会通过共振（振动）导致超声能量无法集中在键合界面区
载带芯片的制造工艺及装连
从传统到阵列，从ILB到OLB，载带焊如何在高密度互连的浪潮中突破性能与成本的“双刃”挑战，引领芯片封装技术的未来？本文为您深度解析。 载带芯片制造工艺及装连技术作为半导体封装领域的关键分支，其核心在于通过载带焊实现芯片与基板的高密度电气互连。 传统式载带焊通过芯片背面固定于基板，利用载带导线实现芯片I/O焊区与基板的电气连接，其优势在于工艺成熟、热传导性能优异，适用于大尺寸芯片及高功率应用场景