先进封装如何支撑AI芯片的性能跃升

来源:中国科学院半导体研究所 制造工艺 4 次阅读
摘要:本文将介绍先进封装如何支撑AI芯片的性能跃升。 传统的“大芯片"的局限 在AI芯片的设计中,算力和带宽的竞赛正在把封装技术推向极限。传统的“一颗大芯片搞定一切”的做法已经难以为继,取而代之的是把大芯片拆成多个小芯片(芯粒),再用先进封装拼在一起。这个转变,正在重塑芯片的设计和制造方式。 过去,芯片设计的主流是单片式方案——逻辑、内存控制器、IO接口全部集成在同一颗芯片上,用同一种工艺制造。优点是

本文将介绍先进封装如何支撑AI芯片的性能跃升。

传统的“大芯片"的局限

在AI芯片的设计中,算力和带宽的竞赛正在把封装技术推向极限。传统的“一颗大芯片搞定一切”的做法已经难以为继,取而代之的是把大芯片拆成多个小芯片(芯粒),再用先进封装拼在一起。这个转变,正在重塑芯片的设计和制造方式。

过去,芯片设计的主流是单片式方案——逻辑、内存控制器、IO接口全部集成在同一颗芯片上,用同一种工艺制造。优点是设计简单、信号路径短,但缺点同样致命:芯片面积越大,良率越低,成本呈指数级上升。而且,不同功能模块对工艺的要求不同,比如逻辑核心需要最先进的制程,而IO和模拟电路用成熟工艺反而性价比更高。把所有模块硬塞在同一颗芯片上,本身就是一种浪费。

芯粒式方案

于是,芯粒式方案应运而生。一颗大芯片被拆成多个功能独立的小芯片,各自用最适合的工艺制造,然后通过先进封装“拼”成一个完整的系统。其中,逻辑芯粒放在中央,高带宽内存(HBM)紧贴在四周。这种“摊大饼”的布局,让逻辑和内存之间的物理距离尽可能缩短,数据通道又宽又快,满足了AI训练对海量带宽的需求。

把这么多芯粒拼在一起的关键,是硅中介层。它是一块带有微米级布线和硅通孔(TSV)的硅片,上面承载着逻辑芯粒和HBM,下面连接到封装基板。硅中介层的互连密度极高,能在指甲盖大小的面积上集成数万条信号线,让芯粒之间的通信几乎感受不到延迟。随着AI芯片对算力的要求越来越高,HBM的数量也在不断膨胀——从4颗、8颗到现在的12颗以上。这意味着硅中介层的面积必须越来越大,而大尺寸中介层带来的工艺挑战也急剧增加:翘曲控制、热机械应力、良率等问题都需要从头解决。不同厂商给出了不同的技术路线,有的继续使用大面积硅中介层,有的用RDL中介层替代硅以降低成本,还有的采用嵌入基板内部的硅桥来减小中介层面积。这些方案各有取舍,共同构成了先进封装的多元生态。

更重要的是,封装逻辑正在倒逼设计和制造的协同。以前,芯片设计和封装是相对独立的两段工序,设计完扔给封装厂就行了。但现在的先进封装,要求设计阶段就必须考虑封装的影响——芯粒如何布局、信号如何分配、散热如何解决,这些都需要设计和封装工程师坐在一起协同优化。那句“把问题扔过围墙的老办法行不通了”,正是对这种割裂模式的反思。

从单片到芯粒,从4颗HBM到12颗以上,封装技术的演进正在支撑着AI芯片性能的飞速跃升。每一次HBM数量翻倍,每一次硅中介层面积扩大,背后都是封装工艺对物理极限的新一次突破。

相关推荐
评论区

登录后即可参与讨论

立即登录