SiC MOSFET 凭借优异的性能优势,已成为电力电子领域的核心器件,备受行业关注。但由于特殊的材料属性与器件结构,SiC 功率器件的长期可靠性,始终是研发工程师重点关注的核心问题。
问题包括但不限于:
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栅氧缺陷密度高
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长期工作中的阈值电压漂移问题(BTI/GSI)
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宇宙射线引发单粒子烧毁
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短路 / 雪崩耐受弱
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体二极管存在双极退化
为此,英飞凌重磅发布全新升级版 SiC 可靠性白皮书,全文近 4 万字,系统性梳理 SiC MOSFET 可靠性的核心要点和应对之策。内容全面解析 SiC 器件独有失效机制,详解标准化测试验证流程,从技术层面筑牢产品长期运行稳定性。

同时,白皮书深度剖析多项核心技术难题,涵盖各种工况下栅极氧化层可靠性、动态负荷应力影响、抗辐射性能、湿度诱发失效机理等关键议题,为器件选型、产品设计与工况应用提供权威技术参考。
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