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Hummink在SEMICON Europa 2026发布BIRD缺陷修复模块

核心导读 Hummink推出BIRD模块,基于高精度毛细管印刷技术,可在产线中实现微米级印刷、材料沉积、缺陷修复和表面功能化。该模块面向显示、半导体和先进封装,帮助降低良率损失,并已在亚洲试产。

随着先进封装在电子元件性能和小型化中发挥越来越重要的作用,制造商在良率、精度和集成方面面临日益严峻的挑战。

作为高精度毛细管印刷(HPCaP)技术的开发商和独家提供商,Hummink 推出 BIRD 模块(Breakthrough Integration and Resolution in Defect Repair)。

HPCaP 技术已在研发环境中展示其能力,目前正以试产阶段部署在显示制造产线上,半导体制造和先进封装将成为接下来的应用领域。BIRD 将微米级印刷、缺陷修复和表面功能化能力直接引入制造流程。

逐层降低良率损失:先进封装的关键挑战

在先进封装中,单个 RDL 缺陷可能导致整块面板报废。随着行业转向扇出型面板级封装(FOPLP)以满足先进封装需求,更复杂的架构和更细的 RDL 线路正带来前所未有的良率挑战。

在缺陷可以修复而非报废的情况下,每块基板可回收的价值可达数万欧元。这对信息通信技术(ICT)、人工智能和多芯片架构领域的制造商尤为重要。

关键规格

BIRD 模块专为集成到生产线而设计,可实现 0.6 至 50 微米的微米级印刷、局部材料沉积与缺陷修复,以及表面功能化。

借助 Hummink 的直接增材 HPCaP 工艺,从设计到成品部件的整个制造周期仅需几分钟。该工艺采用直接无掩模沉积,随后进行局部激光烧结。

这种定向沉积工艺可减少材料和化学品消耗。在良率方面,缺陷修复能力还可最大限度减少需要报废的部件数量。

性能规格:可与最高 250,000 cP 的导电、介电和功能油墨兼容;可与玻璃及多种基板兼容。

试产线已在亚洲启动

BIRD 目前已在亚洲一家大型半导体和显示制造商的试产线上运行。这标志着该模块首次部署于先进制造环境,其中缺陷修复和降低良率损失是关键优先事项。

配图

来源: 海外媒体

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