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半导体技术
如何在线检测H2O2浓度?

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芯片设计:DTCO如何让工艺和电路一起进化

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平行缝焊焊接质量影响因素(二)

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本文介绍了平行缝焊焊接质量影响因素。 焊接速度与焊接热量 现阶段电子设备逐步向轻量化、微型化、多功能化方向迭代,市场对微小型一体化封装管壳,尤其是表面安装型(SM)封装管壳的需求持续攀升。实际生产加工中发现,微小型管壳经平行缝焊加工后,瓷体易出现裂纹缺陷,直接破坏管壳的气密性,造成产品封装失效。 通过有限元仿真技术,可模拟平行缝焊加工过程中不同工艺参数下的管壳热量分布特征,据此优化工艺方案,能够显

PE和EE为什么经常互相甩锅?

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在芯片厂里,PE和EE互相甩锅,几乎是制造现场最有生命力的传统项目。 PE,也就是Process Engineer,工艺工程师。EE,也就是Equipment Engineer,设备工程师。 一个管工艺结果,一个管机台状态;一个盯参数、良率、recipe、工艺窗口;一个盯报警、硬件、PM、UPTIME、部件寿命。 表面上看,两边都是为了产线稳定。但一旦异常出现,双方就很容易站到“对面”。 不是因

28nm工艺里的“两套班子”:Core器件和IO器件为何长得不一样?

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本文介绍了Core器件和IO器件的结构区别与原因。 在28nm芯片上,工程师会同时制造两种PMOS晶体管:一种是Core器件,用于核心逻辑电路;另一种是IO器件,用于与外界通信的输入输出接口。它们虽然做在同一颗芯片上,但内部结构却有明显差异。 从图片可以清楚看到两者的不同。Core器件追求极致速度,它的栅极堆叠采用了High-k介质加金属栅极,等效氧化层厚度(EOT)薄到只有约1.1纳米。薄的

WBBGA及其细分类型封装工艺介绍

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本文主要介绍了WBBGA及其细分类型封装工艺介绍。 WBBGA封装工艺 引线键合球栅阵列(Wire Bonding Ball Grid Array,WBBGA)封装是一种高密度表面贴装封装技术,核心特征为器件引脚全部集中在封装体底部,圆柱状焊球以阵列形式均匀分布,作为封装的I/O接口。相较于QFN封装,WBBGA封装的I/O数量大幅提升,能够满足大规模集成电路芯片的封装需求,适配高性能芯片的研发与

微电子所在面向视觉AI芯片的单片三维异质集成技术领域取得进展

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后摩尔时代,传统晶体管“几何微缩”进程持续趋缓,已成为制约高性能AI芯片实现经济性与规模化发展的核心瓶颈。以“韬(τ)定律”为代表的集成电路发展新范式应运而生,其通过3D堆叠多功能芯片,实现系统级延迟降低与等效集成密度的大幅提升。在边缘端,信息处理同样面临时延约束、功耗瓶颈与数据访存开销高等多重挑战,因此采用三维集成架构将传感单元、缓存单元与计算单元垂直堆叠于核心逻辑处理单元之上,构建“感存算一体

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GaNEXUS™系列是安森美(onsemi)最新推出的氮化镓(GaN)功率产品组合,旨在为现代功率架构提供更高的效率、更高的功率密度以及高速开关性能。在GaNEXUS的应用领域中,氮化镓能够最大化地发挥系统级影响,从电源到负载,支持各类紧凑、高效的功率转换。 凭借久经考验的电源设计、卓越的品质以及全生命周期支持,GaNEXUS助力客户构建可靠且可扩展的解决方案,广泛应用于AI数据中心、机器人与自动

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