断层X射线粒子追踪测速技术
流场测量是流体力学研究的核心基础，本文将介绍断层X射线粒子追踪测速技术。 流场测量是流体力学研究的核心基础。传统的粒子图像测速和粒子追踪测速依靠可见光成像，一旦遇到不透明容器、多孔材料或者存在大量折射界面的多相流系统，就会完全失效。长期以来，研究者只能通过宏观参数间接推断内部流动规律，或申请昂贵的同步辐射机时开展 X 射线成像实验。 技术原理与实验实现 断层 X 射线成像的核心优势是强大的穿透能力
测试测量
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测试测量技术
电子衍射束的动力学理论（二）
本文将继续介绍电子衍射束的动力学理论，主要介绍柱近似与图像计算与近似范围。 柱近似与图像计算 有了衍射强度的计算公式，我们就可以计算实际的 TEM 图像了。但这里还有一个问题：严格来说，晶体下表面某一个点 P 的衍射强度，并不是只来自它正上方的那一条直线上的原子，而是来自它上方一个锥形区域里所有原子的散射。这个锥形的半角大约是两倍的布拉格角2θB，这是菲涅尔衍射的基本规律。如果我们要严格计算这个锥
电子衍射束的动力学理论（一）
本文将介绍电子衍射束的动力学理论，主要介绍衍射本质、消光距离等物理概念以及衍射束强度公式。 透射电镜（TEM）能让我们看到晶体里原子级别的细节，而图像里的明暗变化，本质上都来自高能电子束和晶体原子的相互作用。 当电子束穿过晶体时，只要原子面的角度刚好满足布拉格条件，就会产生一束衍射束。这束衍射束不会直接跑出晶体，它在传播过程中还会被其他原子面再次散射，和原本没被散射的直接束来回交换能量，这个反复散
扫描电镜菊池衍射几何（EBSD，RKD，TKD）的比较
直接电子探测器的微型化催生了EBSD、RKD、同轴TKD与离轴TKD四种菊池衍射几何。它们分别适用于块体、原位、纳米等不同场景。研究通过衍射球重建统一比较，发现TKD在高阶特征分辨率上显著优于反射模式，而能量过滤与畸变控制是提升精度的关键。 近年来，紧凑型直接电子探测器的出现，为菊池衍射技术带来了革命性的发展机遇。探测器体积的大幅缩小，让研究人员可以在扫描电镜的腔室内灵活布置探测器位置，由此发展出
高分辨透射电镜（HRTEM）技术解读
HRTEM 利用电子波动性实现原子级成像，是材料科学核心表征工具。基于相位衬度与衬度传递函数，通过球差与散焦平衡、包络阻尼及样品制备，在界面、准晶、单原子成像等领域揭示材料微观结构。 高分辨透射电子显微镜，简称 HRTEM，是材料科学和凝聚态物理研究里最核心的表征工具之一。它的成像原理基于电子的波动特性，和我们日常用的光学显微镜完全不同，能拍到原子级别的细节，让我们直接看清材料里原子的排列方式。
X射线在封装中的应用
X射线照相是非破坏性检测封装缺陷的关键手段，可精准识别密封工艺中的空洞、引线异常及多余物等内部问题。基于密度与厚度差异成像，结合标准中密封宽度≥75%设计要求等判据，保障高可靠性器件的封装质量。 X射线在封装中的应用 X射线照相是采用非破坏性方法检测封装内缺陷的有效手段，尤其适用于检测密封工艺引发的缺陷及内部缺陷，如多余物、内引线连接错误、芯片附着材料中的空洞，以及玻璃密封时玻璃内部的空洞等。通过
二次电子的空间分辨率：从概念到原子尺度
主要讲述二次电子的空间分辨率。 扫描电子显微镜（SEM）作为材料表征领域的核心工具，其空间分辨率的极限一直是显微学研究的焦点。二次电子（SE）成像凭借对样品表面形貌的高灵敏度，成为SEM最常用的观测模式，但其分辨率的物理本质涉及电子光学、固体物理与散射理论的多重交叉。 本文系统梳理二次电子成像的分辨率基本概念、产生机制与成像模式，深入探讨原子分辨率实现的物理基础。 电子光学的分辨率基础 由于二次电
【走进实验室】轻松复刻规格书波形，示波器抓取start_up/shutdown波形的实用技巧（文末有礼）
每次看规格书里的启机和关机波形都觉得很完美，但是自己抓的时候总是对不上？电压爬升太快？下电波形总是错过。其实，只要掌握几个关键技巧，你也可以抓出规格书的同款高质量波形。 本文将从测试前的准备工作开始，一步步教你如何使用示波器精准地捕捉实验板的启机和关机波形。 在应用场景中，上下电的波形是衡量系统是否能够可靠安全启动与安全关断的重要依据。因此准确获取启机和关机过程中的波形数据，对于电源分析和系统
芯片测试要更准，精密放大器该怎么选？
简介 随着半导体产业的不断发展，半导体测试设备发挥着重要作用。由于半导体和集成电路的不断发展以及对电子产品的越发严刻的要求，测试设备必须不断改进。德州仪器 (TI) 提供了各种各样的精密放大器，它们能为测试集成电路提供了更准确的结果。 电压强励（也称为被测器件 (DUT) 或负载激励）是一个重要方面。在半导体器件上施加某些电压条件并观察半导体的反应对于确保器件正确响应很重要。为提供理想的最终结果，
ICP MS的工作原理
本文介绍了电感耦合等离子体质谱仪的工作原理。 什么是ICP MS? ICP-MS（电感耦合等离子体质谱仪），全称为 Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，是目前无机元素（特别是金属元素）痕量与超痕量分析领域公认的“终极武器”。 常规分析仪器的检测极限通常在 ppm（百万分之一） 或 ppb（十亿分之一），而 ICP-MS 可以轻松下探到 ppt
到底什么是OTDR？
本文主要讲述到底什么是OTDR。 OTDR的全称，叫做Optical Time Domain Reflectometer，光时域反射仪，大概是这个样子： OTDR 大家都知道，我们现在在通信网络中大量使用了光纤光缆。光纤光缆的带宽大、损耗低、时延低、抗电磁干扰，关键还特别便宜，所以成为现代信息高速公路的基石。 光纤是一个传输“光”的封闭通道，可以看成是一根玻璃丝。在现实情况下，它难免会出现一些问
Bode图的理论概念分析
点击下方关注公众号：电源漫谈 关注，分享，点赞，赞赏，在看，支持优质内容！ Bode图的“投影”本质 Bode图由幅频特性和相频特性两张图组成： 幅频特性：将 |G(jomega)| 取对数（单位为dB，即 20lg|G(jomega)| ），以 lgomega 为横轴绘制，反映幅值随频率的变化。 相频特性：直接以 angle G(jomega) （单位为度）为纵轴，以 lg
示波器探头连不上面包板？教你一个小技巧！
文章**概述** 在使用无焊面包板进行原型开发时，我们常需要将电路连接到示波器、频谱仪或函数发生器进行测试。传统做法是直接使用示波器探头或带鳄鱼夹的测试线，但在面包板上，这种方式往往既笨拙又不可靠。 为什么示波器探头不适合面包板？ 问题并非出在探头设计，而是 探头设计初衷与面包板使用场景完全不匹配。 面包板接触压力低，插孔松紧不均。 示波器探头弹性夹子和探针有一定的“抓拉力”。 在调试过程中频繁移
ATE 测量卡怎么选？一文理清架构与设计取舍
测试仪行业面临的一个挑战是，如何在不显著增加测试仪时间、尺寸或成本的情况下，满足对大量测试通道的需求。尽管半导体测试仪（也称为自动测试器件(ATE)）种类繁多，但在大多数测试仪都包含三种主要卡：电压或电流测量卡（V/I 卡）、引脚电子卡（PE 卡）和器件电源卡（DPS 卡）。本篇重点介绍 ATE 系统中这三种卡的架构和功能。 电压或电流测量卡功能 图 1. 电压或电流 (V/I) 测量卡方框图
横河WT1800R功率分析仪积分测试常见问题详解
本文详细解析了横河WT1800R功率分析仪在积分测试中常见的问题及解决办法，包括负载突变导致的偏差、结果与理论值偏差大、测试中途数据中断等问题，并提供了关键技巧与注意事项。
IT8700电子负载：25KHz动态测试提升电源性能
本文介绍了艾德克斯IT8700多路电子负载的动态测试功能，包括远端量测和高达25KHz的动态模式，用于提高测量精度和模拟电源在不同运行状态下的电流变化。
燃料电池测试方案：艾德克斯IT8811电子负载解决低电压带载难题
本文介绍了艾德克斯提供的燃料电池测试方案，通过使用IT8811电子负载和辅助电源解决低电压带载问题，实现高效、低成本的测试。
脉冲激光加工表面形貌与粗糙度测量：优可测白光干涉仪详解
本文介绍了脉冲激光加工后表面形貌和粗糙度的测量难题，并详细解析了优可测白光干涉仪如何以亚纳米级精度解决这些难题，助力高端制造业提升产品良率。